由中國儀器儀表學會、中國分析測試協會組織的對上海光譜儀器有限公司研制的“SP-3800系列高性能自吸收背景校正原子吸收光譜儀”的新產品專家鑒定會在上海光譜公司總部舉行。出席本次鑒定會的專家有上海理工大學莊松林院士、中國分析儀器學會名譽理事長朱良漪教授、中國分析儀器學會副理事長閆成德研究員、中國農科院蔣士強研究員、復旦大學邱德仁教授、上海市計算技術研究所王志宏研究員、中國地質實驗中心楊嘯濤研究員等。莊松林院士主持了本次新產品鑒定會。
會議上，首先由上海光譜儀器有限公司的劉瑤函高工與劉志高工程師分別向與會專家介紹了此次項目的研制情況以及所取得的主要成果。1978年劉瑤函高工在世界上提出了自吸收背景校正方法，而在29年之后，劉瑤函高工又與上海光譜公司通力合作，將這一沉寂多年的技術推上了一個全新的高度。
自吸收式背景校正技術成本低廉，適合我國國情，但由于該技術本身所存在的一些缺陷，長期以來一直未能得到很好的推廣應用。針對這一現狀，項目組在劉瑤函高工的帶領下進行了大量的基礎性研究，目前已取得了豐碩的成果。
他們通過技術革新并通過大量實驗，摸索出一套信息處理，光學降噪、間隙控燈、“汞燈－試劑”梯度測量等或*的專有技術（已經申請發明），使氘燈和元素燈自吸效應雙背景校正技術達到和*類產品性能水平；在當前大多數人們所關心的元素分析的能力上，可與塞曼背景校正相媲美。
而在上述研究成果的基礎上，上海光譜公司成功開發出了具有先進水平的SP-3800系列高性能自吸收背景校正原子吸收光譜儀。
鑒定會上，鑒定委員會的專家們認真聽取了項目完成單位所作的研制報告、測試報告、查新報告、專家測評報告和用戶使用報告，并審查了有關技術資料，參觀了儀器及現場演示，通過質詢、答疑和認真討論，專家們一致認為該項目研究的自吸收背景校正的核心技術，具有*自主的知識產權。所研制的儀器在國內處于，并達到先進水平，因此建議盡快推廣使用，并列入國家自主創新產品。
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